SolidSpec-3700/3700DUV采用了PMT/InGaAs/PbS三个检测器，新加入的InGaAs实现了近红外区的超高灵敏度；并重新设计光路，设计了超大的样品室，实现了大样品的无损测试，同时在主机标准配置了积分球装置；通过使用zei新设计的检测器，光源，以及积分球，使得SolidSpec-3700DUV的测试范围可以扩展到165nm。

1.zei大波长范围：165-3300nm
2.谱带宽度：UV/Vis:0.1-8nm 8段转换 NIR:0.2-32nm10段转换
3.检测器：光电倍增管/InGaAs/Cooled PbS
4.杂散光：<0.00005%T以下（340nm,NaNO2);<0.0005%T以下（1420nm,水）
5.内部尺寸：900W*700D*350Hzei大试样体积：700W*560D*40H

高灵敏度－世界独一无二的三检测器系统
安装三个检测器，标准配备积分球：光电倍增管用于紫外区和可见区；InGaAs和PbS检测器用于近红外区。InGaAs检测器覆盖了光电倍增管和PbS检测器的薄弱范围，保证了整个测量范围的高灵敏度。
立体光路和超大的样品室
立体光路和超大样品室以及积分球的结合使用，可以对例如FPD等大的样品进行无损分析。
深紫外的测定
采用DUV深紫外的测定系统配备氮气吹扫，可以使测量范围扩展到165nm。
应用领域广泛
在FPD（Flat Panel Display平面显示器，包括液晶、等离子显示器）相关领域。
在半导体相关领域，在对于12英寸的硅片的测定时，也需要有大样品室的支持。
在光学通信相关领域，经常需要在近红外区对防反射膜做评价（防反射膜的低透射率性能），所以近红外的高灵敏度变得非常重要。
在光学材料相关领域中，从深紫外到近红外区都需要有很高的精度，同样需要有无损的测定，所以同样重视大样品室。