仪器简介：


工作模式
• 反射式NSOM，通过样品反射光强度进行成像，扫描过程，样品经由探针孔径光照明，反射光耦合到显微镜物镜，并经过PMT探测；
• 荧光NSOM允许局域荧光成像，样品经由探针孔径光照明，透射光经显微镜物镜及滤光片，由PMT探测；
• 透射NSOM可以进行透明样品的成像，透射光同样被倒置光学显微镜收集并由PMT探测。
激光波长选项
Trestles 20/50/100 700-950nm
Mavericks65 1240-1270nm
Tamarak-Er 1540-1560nm

技术参数：


参数


扫描方式（根据样品或探针可选）
测量头扫描范围 80×80×3.5um（+/-10%）
zei小扫描步长 0.009nm
X,Y样品台移动范围 5×5mm
移动精度 5um
样品尺寸 可达Φ100×10mm
X,Y闭环控制平台
X，Y范围 100×100um
固有非线形 优于0.2%
精度 2nm
重复性 30nm（典型），小于全程0.2%
zei大承重 2Kg
照明激光器
脉冲长度 <50fs
输出功率 >100mW
重复频率 >80MHz
波长范围 740-950nm

主要特点：


特 点


切向力反馈
纳米精度光学成像
反射和透过工作模式
飞秒脉冲或波长可调连续激光照明
光谱测量（可选）