激光粒度仪HELOS-R系列
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激光粒度仪HELOS-R系列

产品属性

  • 品牌
  • 产地
  • 型号HELOS/R
  • 关注度655
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产品描述
仪器简介:

HELOS/R系列是在原来的HELOS系统上增加了新的设计,使仪器更适应广大用户的需求。

1.可选用多个镜头测试——通过软件可zei多选择7个镜头进行测试,每个都使用特殊设计,保证zei高的测试精度的同时解决测试范围的问题。

2.加入了新的计算模式——可选,结合2-7个分镜头测试结果为一个粒度分布。

3.加速了镜头转换的速度——刚性全金属外壳结合高精度光学平台,允许激光传感器在任何方向的操作

HELOS传感器系列的应用如下:

模块 测试区域 应用
HELOS /BR 0.1 - 875 µm off-line / at-line
  /KR 0.1 - 3500µm off-line / at-line
VARIO /KR 0.1 - 3500µm off-line / at-line
MYTOS 0.25 - 3 500 µm on-line / in-line

 



技术参数:
激光传感器: HELOS BR: 0.1 µm - 875 µm
KR: 0.1 µm - 3500 µm
VARIO: 0.1 µm - 3500 µm
原理: 激光衍射 λ = 632,8 nm
分散 适应性模块设计 气体分散, 喷雾, 悬浮液, 乳浊液
测试: 多元探测器频率 31 个半圆形元素 
扫描速率:2000次/秒, 自动对焦
计算模式:

Fraunhofer Enhanced Evaluation  FREE,费氏理论

Mie Extended Evaluation
MIEE可供选择,米氏理论
镜头: 光学模块 R1 - R8
性能: 重复性精度 σ< 0.04% (同一产品单次取样重复测试结果的误差)
σ< 0.3% (同一产品分次取样测试结果的误差)               
操作软件: WINDOX 软件 WINDOWS 7 / Vista Prof. / XP Prof.
应用:

激光光源
防护等级/类型

光束直径(1/e²)

5 mW
3A/IP40
R1 & R2 : 2.2 mm
R3-R5: 13 mm
R6 & R7: 26 mm
R8: 35mm
QA-系统 认证 
标准样



确认
标准测试程序
SiC - F1200 (x50 = 4.5 µm)
SiC - P600 ( x50 = 27µm)
SiC - P80 (x50 = 260 µm)
SiC - P50 (x50 = 430µm)
FDA 验证


主要特点:

激光传感器HELOS/BR结合干法/湿法分散模块/样品取样模块进行粒度分析的测试范围是0.1 µm 到 875µm (HELOS/KR, HELOS-VARIO/KRzei大到3500 µm).

1.平行光路设计——光路系统精度zei高

2.分段量程+镜头组合量程——测试范围广的同时保证分辨率zei高

3.高精度全自动对焦系统——激光束中心、镜头中心和多元探测器中心三点始终在一直线上

德国新帕泰克有限公司苏州代表处

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