本测试系统用于铁电体的铁电性能测量，可用于铁电体的研究，也可作为近代物理实验中的固体物理实验设备，同时可作为工业化生产铁电存储器的铁电性能检测设备。该铁电性能测量系统不仅能画出铁电薄膜的电滞回线，还可以定量得到铁电薄膜材料的饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流Ik等参数，还可以进行铁电薄膜材料的铁电疲劳性能、铁电保持性能的测试。能够较全面准确地测量铁电薄膜的铁电性能。该系统配铁电高压模块和铁电高压驱动模块，可测量陶瓷材料的铁电性能。
仪器采用一体化设计，实现测试结果全数字化，操作简单方便。本测试系统采用虚地模式测量电路，与传统的Sawyer-Tower模式相比，此电路取消了外接电容，可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于仪器内部的器件精度，比较容易定标和校准，并且能实现较高的测量准确度。

1、测试用信号源：计算机控制的任意波形。
2、测量放大器：计算机控制，1、4.5、15、80倍。
3、样品容量测试范围：1pF~10nF。
4、测量分辨率：4千分之一。
5、电滞回线内的测量点数：4~1000点可设。
6、疲劳性能测量周期范围：1秒~1*105小时。
7、保持性能测试周期范围：1秒~1*105小时。
8、输出电压范围：±10 V(用于薄膜测量)
配备的高压驱动模块和高压模块可输出±2000 V(用于陶瓷材料测量)

1、电滞回线测量，可以画出电滞回线及得到铁电材料的饱和极化±Ps、剩余极化±Pr、矫顽场±Ec、
电容量C等参数。
2、铁电疲劳性能测量。
3、铁电保持性能测试。
4、电阻测量。
5、漏电流测量。