产品描述
结合创新型的光学器件设计，SR-750
配合Andor 公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750
可以配用多种附件，拓展应用领域， 在透射/ 反射/ 吸收光谱、Raman 光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中，提供*佳的系统解决方案。
SR-750超高分辨率光谱仪主要特点：
• 分辨率*高可达0.02nm
• 多路光谱优化光路，低串扰，高密度多路光谱探测
• 双探测器出口选项，可安装不同类型探测器满足不同实验需求
• 光学元件镀银选项，保证红外探测器更好的性能
SR-750超高分辨率光谱仪技术参数：
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型号 |
Shamrock 750 |
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焦距长度 |
750mm |
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通光孔径（F/#） |
F/9.8 |
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焦平面尺寸 |
30mm×14mm |
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光谱分辨率 @1200l/mm,500nm |
0.04nm |
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光栅塔轮 |
三光栅 |
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自动聚焦 |
- |
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TruResTM 分辨率增强选项 |
- |
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波长精度 |
0.03nm |
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波长重复精度 |
10pm |
不同光栅对应的分辨率及覆盖带宽：
绿色： 无限制自由使用区域；黄色： 可能对系统分辨率产生影响； 红色： 对系统分辨率有影响
光栅效率曲线
简单四步选择光谱仪配置：
