产品描述
产品简介
通过纳米探针对样品施加电场控制，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构演化、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。
我们的优势
纳米探针操纵系统
1.高精度压电陶瓷驱动，纳米级别精度数字化精确定位。
2.可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。
优异的电学性能
特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性，电流测量精度可达pA级。
智能化软件
1.人机分离，软件远程调节电学条件，程序自动化控制倾转角度。
2.全程自动记录实验细节数据，便于总结与回顾。
技术参数
| 类别 | 项目 | 参数 |
|---|---|---|
| 基本参数 | 杆身材质 | 高强度钛合金 |
| 控制方式 | 高精度压电陶瓷 | |
| 适用电镜 | Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi | |
| 适用极靴 | ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP | |
| 倾转角 | α≥±20°，β≥±20°（实际范围取决于透射电镜和极靴型号） | |
| (HR)TEM/STEM | 支持 | |
| (HR)EDS/EELS/SAED | 支持 |
