新一代Orbis聚焦型扫描X-射线荧光能谱仪也称荧光探针，采用聚焦X射线照射，光路系统采用正置式，可在大气压力或低真空环境下检测样品。该仪器可进行视频图象采集和图象拼接，微区及整体成分的定性定量分析，以及线、面元素的分布分析，检测极限为ppm级。

1.微聚焦X光管zei大功率50kV,50W, 1.0mA
2.试样上X光聚焦点直径300um、100um、30um、20um及连续可变 
3.自动发射束滤波系统（包括全开、关闭和6个滤片，共8个位置）
4.10x及100x(300x)彩色CCD摄像头
5.样品室尺寸标准型:直径360mm,高310mm（大样品室型为700x700x700mm）
6.自动样品台行程100x100x100mm(大样品室型为300x300x100mm）
7. 标准精度计算机控制的XYZ样品台
8.样品台载重量: 5Kg,10Kg(大样品室)
9.可以在真空下或大气压下进行检测
10.可以进行单点或给定多点的自动分析
11.可以进行单视域或多视域组合的元素分布分析（面扫描与线扫描）
12.可以进行超越单视域的元素分布分析（在组合视域中选择单幅元素分布分析范围）

选购件：
 Mo靶的X-光管（50kV，50W）
 替代300 µm单级毛细管的100 µm单级毛细管
 与单级毛细管光学相关联的自动准直器（1 mm和2 mm）；由软件控制选择。
 Apollo XL 30mm² 硅漂移检测器
 软件：谱分布图，图像处理软件，线扫描，涂镀层分析，谱匹配，合金分析以及用于数据处理的离线式谱仪软件。

1.样品范围宽:液体,磁性,绝缘体,少量粉末等。
2.样品尺寸大：块状样品可达270x270x100mm（大样品室型则更大）。
3.焦点小，可进行点、线、面的分布分析。
4.能量利用率高，X光管功率小，维护简便。
5.无损检测，使用方便，自动化程度高。
6.工作距离长。便于进行非平坦样品的分析。
7.可应用于材料研究、生物医学、司法鉴定、文物保护与鉴定、环境保护等多领域。
8.丰富的软件不仅满足定性、定量和元素分布分析，还可以进行涂镀层厚度、合金分析、检索与分类分析以及RoHS、WEEE的检测等。