仪器简介：
JEM-2100Plus广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。
JEM-2100Plus搭载Windows操作界面,操作更简单。并与STEM, EDS, CCD和EELS实现了一体化控制。
JEM-2100Plus高度稳定性的测角台设计先进，非常适于包括3位重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件，可以轻松实现3D观察。 压电陶瓷控制样品台也独步天下。
The JEM-2100Plus 采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束，大大提高了分析和衍射成像能力。 

技术参数：
1.点分辨率：0.19nm
2.线分辨率：0.14nm
3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角：25
5.EDS:13

主要特点：
1.五种极靴UHR、HR、HT、HC、CRYO
2.稳定的操作系统
3.zei小束斑尺寸：0.5nm
4.良好的扩展性

• JEM-2100Plus 透射电子显微镜

  JEM-2100Plus电子显微镜，不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统，还增加了zei新的控制系统，大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越，操作方便，简明易懂，在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。

产品特点：

• JEM-2100Plus电子显微镜，不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统，还增加了zei新的控制系统，大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越，操作方便，简明易懂，能在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。

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• 操作性改进

• zei新操作软件“TEM Center” 可在64位版本Windows®上运行，简明易懂，适合初学者使用。

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• 功能高度整合

• 通过整合TEM Center 和高清CCD相机（选配）及扫描透射图像（BF/DF 像）观察功能（选配），在TEM Center 图形用户界面上操作，更加简单直观。

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• 丰富的用户辅助功能

• 拥有丰富的用户辅助功能（自动聚焦、自动衬度/亮度、自动曝光、自动图像拼接、漂移校正、样品台导航功能等）。

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• 图像浏览／编辑软件

• 使用Viewer 软件可以离线浏览／编辑图像。

• *Windows 为美国微软公司的注册商标。

产品规格：

• *1 : 订购时请指定物镜种类。
  *2 : 为选配件。