仪器简介：
XM―2磨擦系数测定仪
用于测量塑料薄膜、薄片的动、静摩擦系数。 
测力范围：0~2N； 
试样厚度：0~0.2mm； 
滑块尺寸：63X63X6； 
滑块质量：200±2g； 
工作台尺寸：200X400； 
工作台运动速度：100±10mm/min 
适用标准：GB10006及ISO8295 
 


技术参数：
XM―2磨擦系数测定仪
用于测量塑料薄膜、薄片的动、静摩擦系数。
测力范围：0~2N；
试样厚度：0~0.2mm；
滑块尺寸：63X63X6；
滑块质量：200±2g；
工作台尺寸：200X400；
工作台运动速度：100±10mm/min
适用标准：GB10006及ISO8295



主要特点：
XM―2磨擦系数测定仪
用于测量塑料薄膜、薄片的动、静摩擦系数。
测力范围：0~2N；
试样厚度：0~0.2mm；
滑块尺寸：63X63X6；
滑块质量：200±2g；
工作台尺寸：200X400；
工作台运动速度：100±10mm/min
适用标准：GB10006及ISO8295