原子力测量显微镜AFM是利用测量探针与样品之间的作用力，进行纳米级的zei高精度扫描分析。除了表面形貌还可以采用不同的测量模式分析材料的其他特性。FRT不同型号的配置提供从几个微米到600毫米的测量范围。扫描范围从20um×20um到80um×80um。

应用范围：
1.表面和材料科学
2.半导体测量
3.生物分析
4.失效分析

原子力显微镜工作模式：接触式；非接触式；磁力/静电力式；侧向力；液体
扫描范围X,Y: 20X20um；40X40um；80X80um
扫描范围Z：2um-6um
垂直分辨率：0.01nm
X,Y分辨率：0.1nm
图片链接： http://oecsh.cn/oecsh/2010-06-02/1275469392d358.html  

高分辨率光纤干涉测量
快速测量分析
适合于液体测量