一、产品介绍

Thermo Scientific™Verios™ XHR SEM扫描电子显微镜（SEM）旨在提高您实验室的可发布结果。Verios SEM通过将整个1 keV至30 keV能量范围内的亚纳米分辨率扩展到新型材料，例如催化剂颗粒，纳米管，孔隙，界面，生物物体和其他纳米级结构，从而提供了新的见解。无需过渡到TEM或其他成像技术即可获得高分辨率，高对比度的图像。Verios SEM提供了研究应用所需的灵活性，可容纳大型样品，例如整片晶圆或冶金样品。Verios SEM可在1至30 kV能量范围内以亚纳米级分辨率提供精确的成像。它提供了在各种应用中对材料进行精确测量所需的出色对比度，而又不影响传统SEM的高通量，分析能力，样品灵活性和易用性。Verios SEM具有独特的技术，例如用于提高热稳定性的定焦镜和用于更高偏转线性的静电扫描。在选择参数，处理大型样品或支持其他应用程序（例如分析或光刻）时，它非常灵活。利用Verios XHR SEM，偶尔的用户和专家都可以在最短的时间内访问准确而完整的纳米级数据。

二、应用领域

广泛的应用在生物学、医学、冶金学等学科领域。

三、产品特点

1. 使用Elstar™单色仪以及优化的光学器件和检测功能，可以在最适合您的样品要求的操作条件下获得准确，真实的纳米级信息：对于非导电样品，其值为500 eV及以下；对于光束敏感样品，则为低剂量操作。
2. 收集完整的纳米级信息：得益于Elstar独特的四重SE / BSE检测和过滤功能，地形和材料形成了对比，得益于我们独特的多段STEM技术，在结构上形成对比。
3. 使用Elstar的精确静电束偏转和先进的校准方法，可以依靠远远超出普通SEM的精确计量。
4. 体验快速，精确的样品管理：容纳大型样品，可控地清洁样品表面，以极低的放大倍数快速检查并导航到感兴趣的区域。
5. 使用电子束光刻技术，电子束诱导的材料直接沉积，执行创新且精确的纳米加工，并在上下或倾斜位置检查创建的3D结构。
6. 发现一个针对简单用户而优化的平台，它具有简单而强大的界面，以及可以依靠仪器的灵活性和扩展控件来针对特定实验精确调整仪器的SEM专家。