XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。

仪器介绍

       我公司研制生产的EDX3600L型的仪器，利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na₂O、MgO、Al₂O₃、CaO、Fe₂O₃、K₂O、MnO、SiO₂、TiO₂、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。同时，为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司特意根据行业需要制作超大型抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。
       EDX3600L型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检测必备的科学检测仪器。中国历史博物馆、中国收藏家协会等古文物收藏部门都是其用户。

技术指标

产品名称：Skyray X荧光光谱仪 
型号：EDX3600L      
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.01微米
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量时间：60s—200s  
管压：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA 
输入电压：AC 110V/220V  
消耗功率：200W   
环境温度: 15-26℃  
相对湿度: ≤70% 

标准配置

超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍
可自动切换型准直器和滤光片 
光路增强系统 
内置高清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器 
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
面光源
放大电路
高低压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型。
三重安全保护模式
外观尺寸： 800×710×1360 mm 
样品腔尺寸：600×600×1000mm
重量：280kg

应用领域

古陶瓷
古青铜器
古首饰
镀层测厚