X荧光光谱仪（简称XRF），它是由X光管发射的X射线,经过滤光片后，X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱，然后经准直器变成平行光束，照射在样品上，样品受到激发，随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束，进入探测器，探测器具有能量分辨能力，可以甄别样品所发射的不同能量特征的X射线荧光，探测器输出的信号经放大器的放大后进入运算装置，由于探测器输出的信号与入射的X射线荧光的能量成正比，因此可以得到定性、定量分析的能量谱图，经过计算机处理，得出定性、定量的结果。

仪器简介：

Thick 680 是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。

技术参数：

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA
可测元素：Ti～U
检测器：正比计数管
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm

主要特点：

专业贵金属检测
内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能贵金属软件，与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序