产品描述
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
光谱解析光致电流影像分析(Spectrally Resolved LBIC)
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
检测功能: 大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
适用样品: 单晶硅电池芯片、多晶硅太阳能芯片及薄膜太阳能芯片
样品大小: 5
