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Explorer 研究级X射线衍射仪
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Explorer
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产品描述
仪器简介:
• 高分辨衍射系统,角度精度可达 0.00001°
• 可进行常规晶相表征、微晶尺寸/晶格及结晶度计算、残余奥氏体定量、晶体结构分析之外更可进行 残余应力分析,薄膜厚度测试(1到500nm,准确度优于1%),变温实验,相变,取向研究、密度(准确度优于± 0.03 g/cm3),表界面粗糙度(0~5nm,准确度优于± 0.1nm)
• 光路可进行Bragg-Brentano, 聚焦及平行光束转换
北京康美照生科技有限公司
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