安捷伦电感耦合等离子体质谱 8900 串联四极杆 ICP-MS 元素分析安捷伦科技（中国）有限公司

Agilent 8900 串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) 是行业中成功且应用广泛的串联电感耦合等离子体质谱仪。Agilent 8900 ICP-MS/MS 提供了一系列配置，适合从常规商业分析到高级研究和高纯度材料分析的应用，其重新定义了 ICP-MS 性能，可提供可靠的分析结果。

8900 系统具有与安捷伦市场领先的单四极杆 ICP-MS 系统相同的基质耐受性和稳定性，并与超高效的氦 (He) 碰撞模式相结合。但 8900 系统增加了串联质谱操作 (ICP-MS/MS)，可对碰撞反应池 (CRC) 中的反应化学过程进行精确的控制，使其成为强大、灵活的多元素分析仪。利用 8900 ICP-MS/MS 控制干扰，让您的结果可靠无疑。

MS/MS 控制反应化学过程，可确保提供一致、可靠的结果，即使对于此前难以分析的元素（如 Si、P 和 S）也是如此
反应化学过程可解决同量异位素重叠问题，这超出了高分辨率 ICP-MS 的能力
四通道反应池气体控制可提供快速、灵活的多模式操作
一套预设方法简化了常规分析的方法设置
氦气模式可简单、有效地控制常见的多原子干扰
稳定的（低 CeO/Ce）等离子体，可提供出色的基质耐受性
超高基质进样 (UHMI) 技术可耐受总溶解固体量 (TDS) 高达 25% 的样品
高灵敏度和低背景为超痕量分析物提供了超低的检测限
通用性和高性能相结合，支持高级研究和要求苛刻的应用
灵活的操作模式（母离子/产物离子扫描）支持对反应化学模式进行研究

什么是串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS)？

串联四极杆 ICP-MS 是一种用于元素分析的串联质谱仪 (MS/MS)。ICP-MS/MS 在碰撞/反应池 (CRC) 前增加了一个额外的四极杆质量过滤器 (Q1)，因此质谱干扰问题可以通过反应池气体和氦气 (He) 碰撞模式得到解决。为了在单位 (1 u) 质量分辨率下实现高离子传输效率，ICP-MS/MS 的两个四极杆都必须在高真空条件下运行。ICP-MS/MS 尤其适用于那些采用单四极杆 ICP-MS 无法实现成功分析的高级应用。

串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) 工作原理

ICP-MS/MS 使用两个四极杆质量过滤器对离子进行两次过滤，Q1 位于 CRC 之前，Q2 位于 CRC 之后。双重质量过滤 (MS/MS) 能够控制 CRC 中用于解决质谱重叠干扰的反应过程。Q1 剔除目标分析物质量以外的所有离子，因此只有分析物离子和相同质量的干扰物能够进入 CRC。反应池气体将分析物离子与重叠离子分离，且不存在单四极杆 ICP-MS 中可能发生的其他元素或同位素形成新的重叠产物离子的风险。

串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) 的用途是什么？

ICP-MS/MS 适用于那些采用单四极杆 ICP-MS 无法实现理想分析的高要求应用。这些应用可能需要极低的检测限，例如，检测半导体制程化学品和高纯度材料中的超痕量污染物或检测极小的纳米颗粒。ICP-MS/MS 可以利用 MS/MS 消除同量异位素干扰、双电荷离子干扰、相邻质量数重叠干扰以及高强度的多原子干扰。这种能力使它可以分析低浓度的非常规分析物，如 Si、P、S、Cl，甚至是 F。

查看应用

高灵敏度和 MS/MS 模式 — 对半导体干扰实现出色的控制

ICP-MS/MS 为半导体和材料行业提供了更低的检测限和更出色的干扰控制。领先制造商使用 8900 确保其高纯度工艺化学品和材料的质量。

超高灵敏度、超低背景以及极短的 0.1 ms 驻留时间可确保准确检测出最小纳米颗粒 (NP)。MS/MS 可控制 Si 和 Ti 的干扰，从而实现 SiO₂ 和 TiO₂ NP 的低浓度分析。

反应气体模式可分离地质年代学及核化学中的同质异位素重叠

MS/MS 控制碰撞/反应池中的化学反应，使研究人员能够分离阻碍地球化学测量的同质异位素重叠。8900 可分离 ²⁰⁴Hg 与 ²⁰⁴Pb、⁸⁷Rb 与 ⁸⁷Sr 以及 ¹⁷⁶Lu 与 ¹⁷⁶Hf 等重叠，实现准确的地质年代学同位素比值分析。
MS/MS 还可分离用于核研究和核退役测量的放射性核素的直接重叠，提高丰度灵敏度，分离峰拖尾重叠（如 ²³⁸U 与 ²³⁷Np）。