单晶硅试样
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单晶硅试样

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产品描述

单晶硅试样
 
光（电）学显微镜放大倍率校正用单晶硅试样（同时评估图象扭曲度）。5mm x 5mm见方，每10µm (0.01mm)有一方格，格与格之间分割线大约为1.9µm宽，每隔500µm有一稍宽的分隔线，用于光学显微镜检测；分隔线和方格由光蚀刻形成，约200nm深。不同样品均可以直接置于单晶硅试样上，从而对光镜（或者低倍电镜）进行内部标定。
可根据扫描电镜型号的不同选择试样及所带的样品台。
 

产品选购：
货号
产品名称
规格
79502-01
Silicon Test Specimen, Unmounted单晶硅试样
1
79502-10
Silicon Test Specimen, Unmounted
10/pk
79502-12
Silicon Test Specimen on 12.5mm Pin Stub
1
79502-20
Silicon Test Specimen for Incident LM
1
79502-30
Calibration Certificate带有认证书的单晶硅试样
1

海德创业（北京）生物科技有限公司

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