全自动大样品原子力显微镜Nanite 无与伦比的精巧设计让其成为工业自动化应用的理想AFM。小于1nm的高分辨率，能用于微小表面结构检测和成像。高度自动化和联用多样性让质量控制提升至全新水平。Nanite可用于检测产品表面结构形貌或其他非形貌（如力学）特征等。Nanite是工程科研、生物材料研究、半导体制造等行业质量控制的首选设备。

全自动大样品原子力显微镜特点
>自动化：通过软件编程和全自动样品台实现多样品自动测量
>灵活性: 多种AFM工作模式，不同工作平台，同时提供脚本编写界面实现自编程分析和控制
>安装便捷：可安装在不同样品台上或用户现有的其他仪器如纳米压痕仪、轮廓仪或加工设备等
>大样品：支持在线检测，对样品大小没有限制，可任意点检测
>独特的悬臂自定位技术，无需调整激光
>顶部/侧边双视窗CCD系统，便于探针定位和样品区域选择
>分区域测量样品，软件将图像拼接成整体
 

全自动大样品原子力显微镜应用
工业：表面检测，质量控制和自动测量
普遍适用于: 需要自动测量或大样品测试的客户

自动化，大样品
Nanite AFM 对样品大小没有限制，其扫描头可安装于表面处理如铣、切、磨或抛光等生产设备上检测设备运行结果。
Nanosurf用户分布多行业如机械制造、材料处理、光学器件、半导体等，可与客户自有设备如压痕仪等联用。

自动质量控制
Nanite是一款专为自动化三维表面检测和多样品测试设计的原子力显微镜，其软件提供脚本编写界面结合X/Y/Z马达驱动的自动平台可以让您实现AFM自行检测、自动生成报告，为您节省时间和精力。

功能强大的软件
>提供软件脚本编写界面，让用户自己编写统计和处理数据的程序
>可自动生成专业报告，分析软件提供图像处理和分析功能，包括滤波、校正、针尖特征、力曲线、粗糙度，颗粒数量或高度的分析
>自动测量样品AFM图像矩阵并可拼接成一幅大图像

全自动大样品原子力显微镜技术参数