1.   采用PI平板压电扫描器，无管式压电管的bow效应，能同时进行光学显微镜与原子力显微镜量测
2.   zei大扫描范围：100×100×15微米（闭环）
3.   探针扫描设计，液相量测情况下不会损坏压电陶瓷
4.   分辨率：云母晶格图像（接触模式、高解析模式）
5.   针尖定位噪声水平（RMS） 
      大气条件下：垂直方向小于0.08nm，水平方向小于1nm（闭环）； 
      液相条件下：悬臂偏移小于0.3nm（弹性系数0.03N/m，温度20摄氏度）
6.   zei先进的电容式探针位置传感器，全程xy扫描线性化达0.03％，保证探针的重复定位与长时间稳定定位
7.   智能马达进针，漂移跟踪设计消除样品加热膨胀的影响
8.   xyz三轴扫描方向硬件线性化设计提供了高端的量测性能
9.   采用850nm波长激光源，不会影响匹配倒置光镜的光学量测
10. 探针弹性系数的热噪声方法自动校正

工作模式
1. 包括接触、侧向力、动态模式如间歇式接触模式、非接触模式、相差、拉力力谱、力成像、导电AFM等所有AFM标准模式，亦能进行纳米刻蚀、纳米操控，细胞与基底或者细胞间相互作用力谱实验
2. 所有操作可在特定气体、大气和液相（如生理缓冲液等）
3. 化学稳定的探针夹具，由石英玻璃与镀金的不锈钢弹性片组成，夹具可进行超声、表面活性剂、酸以及溶剂超声清洗
4. 先进的拉力力谱设计，可用于单分子、生物膜、黏附与弹性量测等研究
5. 量测中可在100微米×100微米进行扫描范围的快速任意选取
6. 可扩展成100微米长程z轴（CellHesion Development Kit）用于细胞黏附的研究，以及针尖增强光谱（TAO Module，原子力－光学联用系统）

光学性能
1. 所有主流研究级倒置光学显微镜（Zeiss、Olympus、Leica、Nikon）可匹配JPK扫描头
2. 与AFM匹配的光学性能如亮场、暗场、相差、荧光、DIC、CLSM、TIRF、FRET等所有使用功能不会降低、同时AFM性能亦可完全使用

样品台
1. 稳定的机械设计方式承载扫描样品与AFM扫描头
2. zei大样品尺寸：直径14cm，高2cm
生物型
   适用于倒置光镜的透光照明模式（相差、DIC等）
    适用于标准载具如培养皿（至55mm）、载玻片、盖玻片等
    适用于高NA值的物镜
标准型
    适用于标准载具如培养皿（至75mm直径）、载玻片等
    足够空间放置JPK或客户自制液相池
    样品磁性固定

环境控制配件可供选择