Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
价格:面议

Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用

产品属性

  • 品牌Amptek
  • 产地美国
  • 型号X-123 FAST SDD C2 window
  • 关注度92
  • 信息完整度
  • 供应商性质生产商
  • 产地类别进口
  • 仪器种类台式/落地式能散型XRF
  • 价格范围10万-30万
  • 行业专用类型电子产品RoHs
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产品描述

Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发

x - 123 sdd与c2窗口应用SEM EDS

001.jpg

图1,X -123快速SDD™C2窗口光谱仪结合真空装置


Amptek推出全新SDD探测器,针对扫描电镜能谱仪客户应用(EDS SEM)利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4),能够对低能量区域元素快速响应,新Amptek SDD™可以很好的测试元素碳(C),高效率快速SDD™是EDS光谱仪最理想的方案。

 


c2窗口传输SEM EDS的应用程序

002.jpg

图2, C2窗口传输效能图


C2 Window Transmission Efficiency 元素C2窗口效能

ElementC2 Window
Transmission
Li29%
Be13%
B19.7%
C43.9%
N59.2%
O62%
F69%
Ne72.9%
Na75.1%
Mg77.3%
Al80.3%
Si81.8%



谱与C2窗口

003.png

图3,在真空环境下使用C2窗口快速SDD™,碳(C)元素光谱图

快sdd 55铁谱

004.png

图4,使用快速SDD™ 测试Fe55光谱

c2窗口相比,聚合物windows图4,Amptek低能量C2系列窗口对比 聚合物窗口 效能对比图

 


AMPTEK INC.

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