禾苗HELEEXE3-3D镀层测厚仪
价格:面议

禾苗HELEEXE3-3D镀层测厚仪

产品属性

  • 品牌禾苗
  • 产地广东
  • 型号E3-3D
  • 关注度101
  • 信息完整度
  • 供应商性质生产商
  • 产地类别国产
  • 仪器种类台式/落地式能散型XRF
  • 价格范围10万-30万
  • 行业专用类型电子产品RoHs
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产品描述

仪器规格:

● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)

● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)

● 仪器重量:50kg

● 供电电源:AC220V/ 50Hz

● 最大功率:330W

● 工作温度:15-30℃

● 相对湿度:≤85%,不结露

仪器应用领域:

● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。

● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。

仪器硬件配置:

探测器

● 类型:X123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● 最佳分辨率:145eV

●信号处理系统:DP5


X射线管

●电压:0-50v

●最大电流;2mA

●最大功率:50W

●靶材:Mo

●Be窗厚度:0.2mm

●使用寿命:大于2w小时


高压电源

●输出电压:0-50Kv

●灯丝电流0-2mA

●最大功率:50w

●纹波系数:0.1%(p-p值)

●8小时稳定性:0.05%


摄像头

●焦距:微焦距

●驱动:免驱动

●像素:500万像素


准直器、滤光片

●系统:快拆卸准直器、滤光片系统

●材质:多种材质准直器

●光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选


十字激光头

●光斑形状:十字线

●输出波长:红光650nm

●光学透镜:玻璃透镜

●尺寸:Φ10×30mm

●发散角度:0.1-2mrad

●工作电压:DC 5V

●输出功率:<5mW

●工作温度:-10~50℃


其它配件

●开关电源:进口高性能开关电源

●散热风扇:进口低噪声、大风量风扇


产品特点:

1.1全自动三维样品台

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.2 X射线向下照射式,激光对焦

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.3小光斑设计

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.4测试时间灵活性调节

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.5多规格样品仓

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.6 X-Ray探测器

HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器,其先进的半导体制冷技术,高峰背比(信噪比),超高计数率,优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点,超越其他品牌或同品牌的组装探测器

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


深圳市禾苗分析仪器有限公司

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