CMI243是一款灵便易用的仪器，专为金属表面处理者设计，配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力，使其成为紧固件行业应用的理想工具。
采用基于相位电涡流技术，CMI243手持式测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。
Web: www.oiia.com.cn
Email: sales@oiia.com.cn

误差 ±3%
分辨率 0.1um
zei小曲率半径 1.2mm(凸)；1.5mm(凹)
zei小测量面积 φ2.5mm
zei小基体厚度 0.35mm
显示 3位LCD数显
测量单位 um-mils可选
校准方式 精密两点校准
统计数据 平均值、标准偏差S、读数个数n(9,999个)
zei大值max、zei小值min
接口 232串口
电源 1节9V电池
仪器尺寸 150x80x30mm
仪器重量 260g

便携式、无损测量各种金属镀层
精度高、稳定性好
测量精度可与X射线测厚仪媲美
可测量各种微型部件(φ2.5mm)
232接口，可连接打印机或电脑