经济实惠的使用样品
更高的准确度及更低的最小称量值让您能够称量非常小的样品,节省珍贵材料,降低成本。
StaticDetect静电检测
由于具备StaticDetect静电检测功能,XPR微量分析天平和分析天平可检测样品和容器的静电荷。
确保一次性称量准确
集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved协同作用,确保满足正确称量的所有相关条
格 - 电子天平 XPR36C/AC
最大秤量 | 32 g |
可读性 | 0.001 mg |
重复性(典型) | 0.0006 mg |
最小称量值(符合USP,允差为0.1%,典型) | 1.2 mg |
稳定时间 | 3.5 s |
调整 | 内部(自动化/FACT) |
接口 | USB-B(连接至设备) RS232(集成式/选件) USB-A(连接至设备) 蓝牙(可选) 以太网 (LAN) |
用户管理 | 密码保护 用户权限 用户数量不受限制 |
认证 | 适用 |
外形尺寸 (高x宽x深) | 292 mm x 195 mm x 485 mm |
线性误差(典型)± | 0.012 mg |
秤盘尺寸 (宽x深) | 40 mm x 40 mm |
有价值的样品 | 适用 |
合规性选项 | 数据完整性 日志历史(符合21 CFR第11部分的规定) 密码保护 日志历史(基本元数据) |
认证天平 | 适用 |
天平系列 | XPR |
天平型号 | 微量天平 |
特点 | 自动静电检测 自动门 密码保护 水平指导 支持21 CFR Part 11(兼容LabX) 用户管理 |
文档选项 | 打印 基本电子文档 自动文档记录(符合21 CFR第11部分的规定) |
自动静电检测 | 适用 |
价格 | $$$ |
微量天平型 | 微量分析天平 |
系列 | 超越系列 |
水平 | 卓越 |
符合21 CFR第11部分的称量规定 | 适用 |
自动化选件 | 自动化工作流程 |