微量样品一步加样
凭借卓越的称量传感器、较高的量程和出色的稳定性,只需一步即可将微量样品直接加入去皮重容器中。
一次即准的称量结果
通过整合StatusLight™、LevelControl与GWP Approved协同工作,确保获得的称量结果准确无误且经过审核验证。
利用StaticDetect™避免隐藏错误
当在样品和容器上检测到静电荷时,将发出警告。可选的去静电装置能在数秒内自动消除电荷。
规格 - 分析天平 XPR36
最大秤量 | 32 g |
重复性(典型) | 0.0007 mg |
稳定时间 | 3.5 s |
校正 | 内部(自动化/FACT) |
接口 | USB-B(连接至设备) RS232(集成式/选件) USB-A(连接至设备) 蓝牙(选件) 以太网 (LAN) |
用户管理 | 密码保护 用户权限 用户数量不受限制 |
符合贸易结算 | 否 |
重复性 | 1.5 µg |
线性± | 0.012 mg |
文档选项 | 打印 基本电子文档 自动文档记录(符合21 CFR第11部分的规定) |
有價值的樣品 | 是的 |
合规性选项 | 数据完整性 日志历史(符合21 CFR第11部分的规定) 密码保护 日志历史(基本元数据) |
自動靜電偵測 | 适用 |
保证重复性 | 1.5 µg |
天平系列 | XPR |
天平型号 | 微量天平 |
价格 | $$$ |
微量天平型 | 微量分析天平 |
系列 | 超越系列 |
符合21 CFR第11部分的称量规定 | 适用 |