纳米分析部生命科学产品经理Louise Hughes表示:“Relate 联用技术图像处理软件是一个高精度的联用分析工具,可供研究人员使用多种不同的仪器技术(EM, AFM和微区分析)进行联用分析。多种数据在同一软件平台下进行组合及叠加分析,有助于提高分析效率并获得更有意义的结果。”
Relate 联用技术图像处理软件用于EDS, EBSD, SEM/TEM和AFM等数据的高精度联用分析,它提供了必要工具来关联不同显微镜的数据,可视化二维和三维的多层数据,并进行相关性分析。
组合不同成像方式采集的数据(如AFM、EDS和EBSD)
交互显示多层相关的数据
元数据查询分析工具
文件化的工作流程和处理
概览
相关性
从Aztec软件的H5oina数据格式导入数据
导入AFM数据
使用直观的图像叠加和图像匹配工具,关联两组数据
生成组合的多模式数据集
可视化
多层数据的二维显示
结合AFM材料特性、EM电子图像、EDS和EBSD面分布图,生成三维可视化形貌图
自定义调色板、数据叠加、图像渲染选项和文档显示
导出图像和动画
分析
生成多模式数据的剖面(横截面)视图
跨多个图层测量和量化数据
使用x射线计数、相分布图、高度或其他材料性质,通过数据阈值分析感兴趣区域
选择广泛的测量参数
将分析数据导出为文本或CSV文件
特点
图像展示
双相钢样品中,铬(蓝色)和镍(黄色)的EDS面分布图叠加在AFM形貌图上
双相钢样品。形貌图(AFM)和磁畴分布图(MFM,黄色)叠加EBSD相分布图(蓝色和红色)和晶界(灰度图)
电路板样品。EDS面分布图展示了氧(红色)、铝(绿色)和钛(蓝色)元素的分布,叠加在形貌图上(AFM采集)
SRAM器件的电子图像(灰度图)叠加EDS面分布图展示了砷(蓝色)和碳(红色)元素的分布
SRAM器件的表面形貌图(AFM)及EDS面分布图叠加,展示了碳(橙色)和砷(蓝色)元素的分布
图像强度转换为高度,展示了SD芯片局部的导电性