Planum-3000全自动光学元件光谱分析仪
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Planum-3000全自动光学元件光谱分析仪

产品属性

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  • 型号Planum-3000
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产品描述
全自动光学元件光谱分析仪

型号:Planum-3000
用途:用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/绝对
反射率、透过率测量,偏振光测量,膜性测量。
全自动光学元件光谱分析仪-适宜测量范围:棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
 
全自动光学元件光谱分析仪-技术参数:
 
类别 I型 II型 III型
探测器 Sony ILX511 x线形CCD 阵列 Sony ILX511 x线形CCD 阵列 Hamamatsu  S7031背照式2D-CCD
检测范围 380-1000nm 380-1100nm 360-1100nm
波长分辨率 <1.35nm <1.35nm <1.35nm
信噪比(全信号) 250:1 250:1 1000:1
相对检测误差 <0.6%(400-800nm) <0.6%(400-800nm) <0.2%(400-800nm)
操作方式 手动 电动 电动
角度分辨率 0.1º <0.0002º <0.0002º
重复定位精度: - <0.005º <0.005º
旋转zei大速度: - 25º/s 25º/s
透射/反射测量角 >8º,<80º,可扩展到5º
单次测量时间 <100ms
S/P光测量 可以
样品尺寸 >5mm
操作系统/接口 Windows XP  Vista /USB2.0
产品尺寸 1020mm*485mm*300mm
功率/电源: 100W/220V-50HZ
其他 可自定义打印报表格式,开放式光学材料光坯反射率数据库

广州标旗光电科技发展股份有限公司

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