岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列适用于 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目，参考多项行业标准/ VBA。可以检测 玻璃 等样品。可应用于多个行业领域。

本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和电子探针EPMA对三类玻璃条纹缺陷进行了测试和分析。在玻璃制品生产过程中，产生条纹的因素有很多，对于玻璃条纹缺陷形态、成分及元素分布特征的表征可以为条纹缺陷产生的原因提供分析思路和针对性的解决方案，为质量管控和工艺优化提供指导。

先进的分析本领与优越的操作性能融为一体！前沿科技，隆重登场。

高灵敏度 ·  高精度 ·  高分辨率 「简单•易懂的操作」

从软件到硬件凝结了全新技术，铸就了新一代EPMA。岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度·高精度·高分辨率的基础上，又新增了简单·易懂的操作性能，将电子探针功能发挥至极致。既可满足初学者简易操作的需求，又能适合专家级的科研分析。

 前沿设计的X射线分光器可以实现高灵敏度·高精度分析

X射线取出角决定分析性能，52.5°高取出角更胜一筹

图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁（Fe）、右下图为钛（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。

 从SEM观察到开始分析，简便易行，大幅度提高工作效率。

同一显示器上同时显示高灵敏度的光学图像和SEM图像

在同一个显示器上观察光学图像和SEM图像。


SEM图像和光学图像在同一显示器上，减少视线的移动。

通过高灵敏度的CCD可以观察很暗的样品。

只需单击一下即可开始SEM图像观察。

只需点击【SEM AUTO】图标，就可以根据事先设定的条件进行SEM图像的观察。

束流变换更加简单·快速·高精度，且保持聚焦。

只需选定束流目标值即可快速、高精度地自动设定束流。
通过联动控制，束流大小改变后也能保持图像聚焦状态。

※外观及规格的变动，恕不另行通知。

    　　技术参数：

    　　●分析元素范围 4Be～92U

    　　●X射线分光器数 2～5 道

    　　●X射线取出角 52.5°

    　　●罗兰圆半径 4英寸(101.6mm)

    　　●二次电子分辨率 6nm ( EPMA-1720), 5nm ( EPMA-1720H)