X荧光镀层测厚仪 Thick 800A天瑞仪器 应用于电子/半导体
价格:面议

X荧光镀层测厚仪 Thick 800A天瑞仪器 应用于电子/半导体

产品属性

  • 品牌天瑞仪器
  • 产地江苏
  • 型号Thick 800A
  • 关注度299
  • 信息完整度
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产品描述

天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 800A用于测定废气、废水、废渣,符合行业标准RoHS 2.0指令。适用分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。


  •   良好的射线屏蔽作用

  •   测试口高度敏感性传感器保护

  • 技术指标

    型号:Thick 800A
    元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
    一次可同时分析多24个元素,五层镀层。
    分析含量一般为2ppm到99.9% 。
    镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
    任意多个可选择的分析和识别模型。
    相互独立的基体效应校正模型。
    多变量非线性回收程序
    度适应范围为15℃至30℃。
    电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
    仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
    重量:90 kg

    标准配置

    开放式样品腔。
    精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
    双激光定位装置。
    铅玻璃屏蔽罩。
    Si-Pin探测器。
    信号检测电子电路。
    高低压电源。
    X光管。
    高度传感器
    保护传感器
    计算机及喷墨打印机

      应用领域

      黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.

      金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

      主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

      仪器介绍

       Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

      性能特点

    •   满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

    •   φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

    •   高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

    •   采用高度定位激光,可自动定位测试高度

    •   定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

    •   鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

    •   高分辨率探头使分析结果更加精准

    江苏天瑞仪器股份有限公司

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