Contour GT-X家族三维光学显微镜为实验室研究和生产工艺控制提供最佳性能的非接触式表面计量方案。X3和X8型号集十代白光干涉技术设计之大成，成为市场上三维光学轮廓仪在测量速度、分辨率、重复性、准确性等性能上zei优和大批量生产中效率最佳的选择。

Contour GT-X的独特优势包括以下几点：

• 可快速方便定位的电动X、Y、Z平台和电动测量头部倾斜装置；

• 集成式防震台与特殊设计的基座提供优异的抗震性能；

• 业界率先推出基于64位的Vision64软件使用户更方便地分析各种应用数据，广泛应用于眼科材料，医疗器械，精密机械加工零件，太阳能电池，高亮度LED和半导体器件等的各种材料的表面测量。

此外，独特的双LED光源设计（专利）配合0.5x到230x的放大倍数保证了优异的测试质量。

• 激光自动校准（专利）保证了测量的准确性，重复性以及多台机机器同时使用时的一致性。

• Vision64的64位软件架构与多核处理器结合将测量复杂表面的测量分析速度提高了10倍。

• 通过数千张单幅扫描的数据的一次拼接可实现连续大面积高分辨的图片。

• AcuityXR 功能打破了光学分辨极限，可分辨出小于130nm的特征尺寸。

• Vision64软件的图形化界面进一步提升了用户的易用性，同时也为获得的更加广泛的数据提供了更有效地分析功能。