半导体失效分析系统
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半导体失效分析系统

产品属性

  • 品牌滨松
  • 产地日本
  • 型号各种型号
  • 关注度188
  • 信息完整度
  • 供应商性质生产商
  • 产地类别进口
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产品描述

欲了解本产品更详细信息,请点击:http://www.hamamatsu.com.cn/product/category/10352/0/index.html

产品图像 产品型号 产品名称
  PHEMOS-1000 微光显微镜PHEMOS系列
  iPHEMOS-TP 倒置微光显微镜iPHEMOS系列
  iPHEMOS-TD 倒置微光显微镜iPHEMOS系列
  iPHEMOS-SD 倒置微光显微镜iPHEMOS系列
  TriPHEMOS 实时分析微光显微镜
  THEMOS-1000 热点检测微光显微镜THEMOS系列
  THEMOS mini 热点检测微光显微镜THEMOS系列
  μAMOS 红外共焦激光失效分析仪

 

滨松光子学商贸(中国)有限公司

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