薄膜厚度测量仪
价格:面议

薄膜厚度测量仪

产品属性

  • 品牌滨松
  • 产地日本
  • 型号C型号
  • 关注度135
  • 信息完整度
  • 供应商性质生产商
  • 产地类别进口
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产品描述

欲了解更多信息详细,请点击:http://www.hamamatsu.com.cn/product/category/10356/0/index.html

产品图像 产品型号 产品名称
  C12562-02 纳米膜厚测量仪系列
  C10178-01 纳米膜厚测量仪系列
  C10178-03 纳米膜厚测量仪系列
  C11627-01 纳米膜厚测量仪系列
  C11011-01 微米膜厚测量仪
  C11011-01W 微米膜厚测量仪
  C11665-01 微米膜厚测量仪
  C11295 多点纳米膜厚测量仪

 

滨松光子学商贸(中国)有限公司

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