WinDENDRO年轮分析系统上海泽泉科技有限公司

产品描述

WinDENDRO年轮分析系统

WinDENDRO是利用高质量的图形扫描系统取代传统的摄象机系统。扫描系统能提供高分辨率的彩色图象和黑白图象。采用专门的照明系统去除了阴影和不均匀现象的影响，有效的保证了图象的质量。增大了扫描区域，以供分析。还可以读取TIFF标准格式的图象。

组成：
* WinDENDRO年轮分析软件（基本版 / 标准版 / 专业版）For Win9x，WinMe，Win2000，WinXP
* XLSTEM茎杆分析插件（For MS-EXCEL）可选件
* 专业扫描仪
* 电脑（zei低配置：Pentium III / 64 MB内存 / 17"显示器）用户自备
* 生长锥定位工具

技术指标：

特点	WinDENDRO版本
特点	基本版	标准版	专业版
水平、垂直方向测量年轮	Yes	Yes	Yes
延直线方向测量年轮（单节）	Yes	Yes	Yes
年轮宽度测量	Yes	Yes	Yes
自动年轮监测方式（强度不同）	Yes	Yes	Yes
通过扫描测量年轮	Yes	Yes	Yes
判断无效的年轮	Yes	Yes	Yes
图象对比度增强功能	Yes	Yes	Yes
彩色和黑白可调	Yes	Yes	Yes
测量年轮宽度时计算年轮角度	Yes	Yes	Yes
当样品有缺陷时，估算丢失的年轮	No	Yes	Yes
以各种方向测量年轮	No	Yes	Yes
测量复杂形状样品的年轮（多节）	No	Yes	Yes
年轮宽度、十字交叉图象及相关性	No	Yes	Yes
幼苗宽度测量	No	Yes	Yes
用户可调节智能幼苗清晰度	No	Yes	Yes
每环的反射光测量（zei小值、zei大值、平均值、方向）	No	Yes	Yes
基于象素的数据	No	Yes	Yes
存储年轮宽度以"树心-边缘"/"边缘-树心"	Yes/No	Yes/Yes	Yes/Yes
存储zei后部分年轮	No	Yes	Yes
忽略缺口部分	No	Yes	Yes
讲述& 演示年轮自动监测算法	No	Yes	Yes
针对年轮增加注释或观察资料	No	Yes	Yes
可自定义设置一些参数（例如：名字，类型等）	No	Yes	Yes
可以测量其他设备采集到的图象（如：摄象机等）	No	Yes	Yes
手工测量图象的边材宽度	No	Yes	Yes
年轮密度测量（zei小值，zei大值，平均值，方向）	No	No	Yes

产地：
Regent 加拿大

价格：面议

WinDENDRO年轮分析系统

产品属性

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