ELEMENT 2和 ELEMENT XR 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)ICP-MS赛默飞 iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量杂质
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ELEMENT 2和 ELEMENT XR 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)ICP-MS赛默飞 iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量杂质

产品属性

  • 品牌赛默飞
  • 产地德国
  • 型号ELEMENT2/XR
  • 关注度285
  • 信息完整度
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产品描述

赛默飞ELEMENT 2和 ELEMENT XR 电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)ELEMENT2/XR适用于测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量杂质项目,参考多项行业标准 iCAP Qc ICPMS。可以检测高纯氧化钼等样品。可应用于其他化工行业领域。

钼具有耐高温,低膨胀系数,在合金中添加钼能起到耐

Thermo ScientificTM ELEMENT 2/XR 是具有出色分析能力的高分辨单接收电感耦合等离子体质谱仪(HR-SC-ICP-MS)。目前,全球已经安装使用的ELEMENT 2/XR已超过600台,服务于环境监测、核科学、地球科学、材料科学等各个领域。

 

    ELEMENT 2/XR主要特点:

·         线性范围宽:线性范围达12个数量级,不同模式自动切换校正;

·         灵敏度高:可使用赛默飞zei新的Jet接口技术,提供无与伦比的灵敏度;

·         具有固定宽度的低、中、高分辨率狭缝,采用高分辨率可直接分析有质谱干扰的同位素。

 

 

 

赛默飞色谱与质谱分析

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