Phenom扫描电镜 Phenom Pro适用于束斑直径项目，参考多项行业标准扫描电镜，台式电镜，台式扫描电镜，桌面扫描电镜，束斑尺寸。可以检测电子束，束斑直径等样品。可应用于多个行业领域。

近年来，随着科技的发展和材料尺寸的不断缩小，扫描电镜（SEM）已经成为一种非常有价值的表征方法。SEM作为一种通用的工具，方便用户可以对各种各样的材料进行多种不同类型的分析。为获得更好的结果，用户应该仔细设定SEM参数。其中一个设置是束斑直径，即照射在样品上的电子束直径。在这篇博客中，阐述了如何在SEM中调整束斑直径，以及如何在高分辨率成像和大束流之间实现平衡，以获得最佳结果。

17世纪荷兰光学天才:Antoni van Leeuwenhoek设计并制造世界第一台光学显微镜 

19世纪Anton和Gerard Philips在荷兰埃因霍温创建了飞利浦公司

1947年LePoole教授为Dorgelo教授展示荷兰第一台扫描电子显微镜

飞纳(Phenom)主要特点

一长寿命/高亮度/低色差CeB6灯丝

一表面细节丰富的高质量图片

一内置彩色光学显微镜

一自动马达样品台

一30秒快速成像，操作简单

一光学与低倍电子双重导航

一防震设计，对放置环境无牛条殊要求

一样品仓低真空技术，直接观测绝缘体，}c需喷金

一四分割高灵敏度背散射电子探头，兼得样品表面

  形貌与成份信息

飞纳台式扫描电镜

1997年FEI和飞利浦电子光学宣布合并其全球业务

2008年台式扫描电子显微镜飞纳(Phenom)进入中国市场
2012年飞纳(Phenom）台式扫描电镜全球销最突破2000台
2013年飞纳（Phenom)发布第三代台式扫描电镜，放大倍数
10万倍，分辨率优于8nm