安捷伦三重四极杆 ICP-MSAgilent 8900 可用于测定半导体级四甲基氢氧化铵 (TMAH)，适用于多元素 NP项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。

使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS，在多元素 spICP-MS 模式下，对 1% TMAH 中的多元素纳米颗粒进行了测定和表征。对于半导体级化学品中的多元素  NP  分析，MS/MS 方法可实现低背景、高灵敏度和干扰控制。使用专门开发的快速多元素纳米颗粒分析软件，在一次样品采集中获得  Ag、Al2O3、Fe3O4、Au 和  SiO2  NP  的多元素数据并组合到一个结果表中。该表格提供关于含各种实测元素的纳米颗粒的全面信息。结果表明，在溶液中含有大颗粒（如200 nm SiO2 NP）的情况下仍可测量小颗粒（如 30 nm Fe3O4NP）。1% TMAH 溶液中的  Al2O3和  SiO2  NP  的粒径和颗粒浓度在 10 小时内稳定不变，而 Fe3O4和 Ag NP 的颗粒浓度随时间逐渐减小。这一结果表明，TMAH 溶液中的 Fe3O4和 Ag NP 应在配制好后尽快测量。1% TMAH 中 Fe3O4 NP 的粒径稳定不变，而 NP 浓度随时间的变化还需要进一步的研究。本研究表明，利用  spICP-MS  能够快速准确地测定含有由不同和/或多种元素组成的纳米颗粒的样品。与针对每种  NP  分别采集数据相比，快速多元素纳米颗粒分析软件简化了分析方法并将样品运行时间缩短了  7  分钟。测量的元素越多，节省的时间也就越多。

卓越的性能

• 受控的反应化学过程提供一致、可靠的结果

• 分离重叠的同量异位素，超越高分辨率 ICP-MS 的能力

• 极低检测限，甚至可用于以前难以检测的元素，例如 S、Si、P

• 功能强大的 ICP-MS MassHunter 软件可简化您的工作流程并使方法开发自动化

无与伦比的灵活性

• 标准 4 通道反应池气体控制

• 独特的母离子/子离子扫描模式，清除呈现反应过程

• 用于研究和方法开发的出色通用的 ICP-MS

强大的技术助您完成前所未有的更多工作

• 监测原料化学品和硅片加工浴中的低水平超痕量污染物

• 定量分析未知蛋白质和多肽，以准确测量低浓度的异质元素硫和磷

• 对复杂环境、食品和生物样品中低至亚 50 纳米的纳米颗粒进行表征

• 以更高的准确度测量所有食品样品中的低浓度硒、砷和各种形态的砷