ICP-MS赛默飞iCAP™ TQ iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量杂质
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ICP-MS赛默飞iCAP™ TQ iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量杂质

产品属性

  • 品牌赛默飞
  • 产地美国
  • 型号iCAP™ TQ
  • 关注度279
  • 信息完整度
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产品描述

赛默飞ICP-MSiCAP™ TQ用于测定高纯氧化钼,符合行业标准 iCAP Qc ICPMS。适用测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量杂质项目。

钼具有耐高温,低膨胀系数,在合金中添加钼能起到耐

无论您是否想开拓新市场、突破研究界限或满足未来法规要求,iCAP TQ ICP-MS仪器均是助力您的实验室引领未来新发展的解决方案。

具有常规易用性的研究级分析:

  • 干扰去除功能强大,即使在zei苛刻的基质中也能去除干扰

  • Thermo Scientific系列台式微量元素分析仪器所提供的检出限zei低

  • 准确度和可重复性令人难以置信;亚ppt级常规分析

  • 方法开发简单(无论基质具有多大挑战)

  • 稳健、所需工程维护少,因而故障时间zei短


  体验研究级分析的益处、扩大实验室的应用组合,确保您的操作员能够由单极四重杆ICP-MS仪器无缝切换为三重四极杆(具有Thermo Scientific™ Qtegra™ Intelligent Scientific Data Solution™(ISDS))。

赛默飞色谱与质谱分析

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