ICP-OES等离子体光谱仪赛默飞 iCAP 7600 应用于其他化工
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ICP-OES等离子体光谱仪赛默飞 iCAP 7600 应用于其他化工

产品属性

  • 品牌赛默飞
  • 产地英国
  • 型号 iCAP 7600
  • 关注度302
  • 信息完整度
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产品描述

赛默飞ICP-AES iCAP 7600可用于测定金属和合金,适用于测定金属和合金中的杂质元素项目。并且参考多项行业标准iCAP TQ ICP-MS 和 Qtegra ISDS 。可应用于地矿/有色金属行业领域。

材料的特性对于其在现代工业中的成功应用至关重要。特殊的机械或化学性质通常取决于材料中是否含有某些元素及其含量。由于大部分工程材料来自于冶金产
品,因此掌握这些纯金属或合金中微量元素的浓度至关重要。例如用于航空航天工业的镍合金,因其杰出的耐高温和低蠕变的独特性能,这些性能使得镍合金成
为制造涡轮叶片的理想材料。然而,控制镍合金中的杂质元素(例如硒)是至关重要的,因为这些杂质可能会降低叶片的强度,从而导致叶片被压裂,最终完全
失效。
另一种重要的金属是锆,常被用于高温或高腐蚀性的环境中。由于其中子俘获的横截面较低,锆特别适用于制造核燃料棒的管状包壳。核级锆可以混合少量其它
元素,例如锡、铌、铬或镍,以提高其机械性能和耐腐蚀性。但必须避免镉的存在,因镉具有吸收中子的特性,即使在痕量水平下,也将降低核燃料棒管状包壳的预
期性能。
如上所述,为了形成和保持材料的特殊性质,需要严格控制金属中的杂质元素。除了一些可以直接对固体材料进行检测的技术,如激光烧蚀(LA)ICP-MS 或辉
光放电质谱(GD-MS),将金属或合金溶解后测定也是分析杂质元素的一种可行的方法。然而,由于金属是高基体的样品(通常高达 1,000 ppm),因此在有光
谱干扰的情况下,检测痕量杂质元素是具有挑战性的。

对于大多数高要求痕量元素分析,Thermo Scientific™ iCAP™ 7600 ICP-OES 可高效、准确地传输样品数据,从而增加了产能。此款功能强大的光谱仪将优异性能与长期稳定性和低气体消耗量相结合,从而可提供具有成本效益并能大幅提高您实验室痕量分析质量和数量的方法。我们高产能 ICP-OES 也提供灵活的附件支持(例如激光烧蚀)并且内装 Thermo Scientific™ Qtegra™ Intelligent Scientific Data Solution™ (ISDS) 软件以便于设置和操作。


电感耦合等离子体-光学发射光谱法 (ICP-OES) 是对液体和固体样品中的痕量元素进行分析和定量的公认强大技术。

耐用且可靠的 iCAP 7600 ICP-OES 是一种功能强大的元素分析仪,占用空间小。该光谱仪的其他特点和优势如下:

通用性:

  • 是高通量合同实验室和多数应用领域研发设施的理想选择。

  • 快速分析高要求样品基质,例如那些用于制药和材料科学领域的基质。

  • 可扩展性和附件电导率zei大,可支持不断增长的实验室要求。


生产力和性能:

  • 强大 Sprint 阀、超快速分析、高准确度且容易使用的特点使该系统可增加实验室的样品处理量。

  • 耐用且可靠的性能连同强大的功能和稳定性,使其可处理zei具难度的样品基质。

  • 高效的光传输和优异的分辨率可提高系统灵敏度和检测能力。

  • 选择 166–847 nm 以外的波长并可在所有浓度下进行zei佳信噪比测量。

  • 高度稳定且恒温受控的多色器,可实现长时间分析运行并减少重新校准次数。

  • Element Finder 插件可自动进行方法开发,从而选择zei适合样品的波长。


性能和灵活性:

  • 无论空气环境是否变化均能对所有气流实现精密、稳定的输送,以保持等离子稳定性。

  • 轻松连接外围设备,便于与如激光剥蚀等高级技术联用。

  • 完整的质量流控制器可输送附加气体,不需执行复杂应用。

  • 多种样品处理套件和自动进样器以便实现简单、有效配置和zei佳分析性能。

  • 有专用的垂直观察等离子体或双向(垂直和水平)观察等离子体的配置可选。

  • 集成的氢化物发生系统附件可提供针对氢化物形成元素的亚 ppb 检测。


软件:

  • Qtegra Intelligent Scientific Data Solution (ISDS) 软件可使任务用时zei短、自动化程度zei高。


赛默飞色谱与质谱分析

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