赛默飞iCAP™ 7400 ICP-OES 等离子体光谱仪iCAP 7400可以用在其他化工行业领域,用来检测金属和合金,可完成测定金属和合金中的杂质元素项目。符合多项行业标准iCAP TQ ICP-MS 和 Qtegra ISDS 。
材料的特性对于其在现代工业中的成功应用至关重要。特殊的机械或化学性质通常取决于材料中是否含有某些元素及其含量。由于大部分工程材料来自于冶金产
品,因此掌握这些纯金属或合金中微量元素的浓度至关重要。例如用于航空航天工业的镍合金,因其杰出的耐高温和低蠕变的独特性能,这些性能使得镍合金成
为制造涡轮叶片的理想材料。然而,控制镍合金中的杂质元素(例如硒)是至关重要的,因为这些杂质可能会降低叶片的强度,从而导致叶片被压裂,最终完全
失效。
另一种重要的金属是锆,常被用于高温或高腐蚀性的环境中。由于其中子俘获的横截面较低,锆特别适用于制造核燃料棒的管状包壳。核级锆可以混合少量其它
元素,例如锡、铌、铬或镍,以提高其机械性能和耐腐蚀性。但必须避免镉的存在,因镉具有吸收中子的特性,即使在痕量水平下,也将降低核燃料棒管状包壳的预
期性能。
如上所述,为了形成和保持材料的特殊性质,需要严格控制金属中的杂质元素。除了一些可以直接对固体材料进行检测的技术,如激光烧蚀(LA)ICP-MS 或辉
光放电质谱(GD-MS),将金属或合金溶解后测定也是分析杂质元素的一种可行的方法。然而,由于金属是高基体的样品(通常高达 1,000 ppm),因此在有光
谱干扰的情况下,检测痕量杂质元素是具有挑战性的。
紧凑式 Thermo Scientific™ iCAP™ 7400 ICP-OES 符合众多痕量元素应用的法规要求,可提供卓越的性能和生产力。这种功能强大的光谱仪拥有广泛的分析功能,可实现全波长覆盖,同时又能保持高灵敏度。它也容易使用,所需用户设置和维护极少,并且每个样品的检测成本低。iCAP 7400 ICP-OES 内装 Thermo Scientific™ Qtegra™ Intelligent Scientific Data Solution™ (ISDS) 软件,从而可快速进行设置和操作。
电感耦合等离子体-光学发射光谱法 (ICP-OES) 是对液体和固体样品中的痕量元素进行分析和定量的公认强大技术。
耐用且可靠的 iCAP 7400 ICP-OES 是一种功能强大的元素分析仪,占用空间小。该光谱仪的其他特点和优势如下:
取样系统:
适用于中等样品通量。
自动进样器附件可在无人照看的条件下检测 180-720 份液体样品。
仪器快速进样模式让您能够分析更大的样品负荷。
智能分组的波长提高了数据采集速度,并增加了样品通量。
集成的氢化物发生系统附件可提供针对氢化物形成元素的亚 ppb 检测。
可选的样品处理套件适用于有机/挥发溶剂、氢氟酸和高固体解决方案。
通用性:
可处理众多行业的多种应用。
支持 QA/QC 和合同实验室工作流程。
光学系统:
高效的光传输,优异的分辨率、灵敏度和检测能力。
波长选择范围为 166–847 nm,测量信噪比zei佳。
专用的垂直观察等离子体或双向观察等离子体的配置,适合感兴趣的样品类型和元素。
使用气体质量流量控制器控制雾化器气流量,改善长期信号稳定性。
Element Finder 插件可自动进行方法开发,从而选择zei适合样品的波长。
可对一系列有挑战性的基质和样品体积进行定制,从而拓展了实验室的工作范围。
软件:
集成的 Qtegra Intelligent Scientific Data Solution (ISDS) 软件可zei大限度缩短任务时间并尽可能提高协议自动化水平。