ISPX射线荧光测厚 ISP iEDX-150MT适用于内部结构项目,参考多项行业标准http://www.sense.cc/newsinfo/458265.html?templateId=118209。可以检测石墨负极等样品。可应用于多个行业领域。
iEDX-150MT镀层测厚仪;
采用非真空样品腔;
专业用于五金电镀镀层分析;
采用多种光谱拟合分析处理技术;
可增加合金成份分析及RoHS功能。
iEDX-150MT镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域,五金电镀,汽车配件电镀等
技术指标
多镀层分析,1~5层
测试精度:0.001 μm
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间:10~30秒
Si-PIN探测器,能量分辨率为149±10eV(可选配SDD探测器)
微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶)
0.2,0.3,0.5mm准直器可选
平台尺寸200×200mm,高度0~150mm,MAX荷载为15公斤
高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
仪器尺寸:618×525×490mm
图谱界面
软件支持无标样分析
超大分析平台和样品腔
集成了镀层界面和合金成分分析界面
采用多种光谱拟合分析处理技术
镀层测厚分析精度可达到0.001μm
分析报告结果
直接打印分析报告
报告可转换为PDF,EXCEL格式
样品分析图谱:
测试结果界面: