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面议
荧光光谱仪
产品属性
品牌
产地
型号
DF-1000X
关注度
127
信息完整度
关闭
产地:; 品牌:
产品描述
探测器
--SDD硅漂移探测器(电制冷,只需要通电即可)
--典型分辨率:123ev,133ev(50000CPS).
--输入计数率:100KCPS,远大于Si-Pin与Si-Li(是其10倍左右)
--峰背比:>20000
--铍窗厚度:8um Dura Be(一般的探测器在25um,对轻元素有更好的透过率,独特的Dura技术
Be窗可以耐酸,碱的腐蚀)
--处理器:数字电路,放大倍数,时间常数可任意设置。
--高寿命,借助于其独特的Dura Be技术,探测器在几年的时间内探测器的真空不会变坏,晶体不会损伤,无需担心后期的维护费用
2.
X
射线管
--高压:0-50Kv连续可调
--电流:0-1000uA连续可调(0-2500uA可选,大电流对Na-K有更好的激发效果)
--功率:50W
--稳定性:8小时0.2%
--高寿命,正确操作的情况下寿命可以达到50000小时
3
.
高压发生器
--输入电压:24VDC
--输入电流:4A
--输出电压:50Kv,1mA(2.5mA可选,适配2500mA光管)
--zei大功率:50W
--稳定性:8小时0.05%
4.
精密结构设计
--垂直倒角设计,精密的控制保证优异的重复性,上照式设计可以完全避免灰尘的污染,使得仪器可以做到真正的免维护
5.
冷却散热系统
--良好的多级温控自反馈电路,室温在5-25度,仪器结果不会有影响。
6.
自动进样系统
--8样品自动进样
7.光谱分析系统控制和数据处理系统
--12位模/数转换器
--17英寸显示器
-- PentiumE5200计算机
--250G以上硬盘驱动
--多功能标准键盘
--打印机
分析软件
--元素测量范围:Na-U
--可对RoHS指令中的五种有害元素进行精准测试
--可以测量镀层厚度
--标准曲线法,理论系数法,基本参数法,多元比例法使您轻松应对各种样品的分析
--开放式软件设计,您可以自己开发新的工作曲线
--内置式参数设计,您在自己制作工作曲线时,各种干扰自动扣除。
8.
尺寸规格
--长900mm宽550mm高680mm,
重量
重量约100kg
9
.
电源要求
--220V±10% 50Hz
10
.
工作环境
--温度范围:5—30℃。
--相对湿度小于等于80%
烟台东方分析仪器有限公司
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