主机(测量部)
>>使用单一光学系统无断点覆盖0.010-300μm 粒径范围
符合JIS规格的单一光源覆盖了0.010-300μm的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内,不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配,实现完全无断点的宽广范围。
>>采用紫色半导体激光
由于采用了的紫色半导体激光,可测量的粒子范围可达数十纳米领域。另外,以往使用红色激光作为光源的粒度分布测量装置,由于光吸收导致的蓝色系粒子很难正确测量的问题,也迎刃而解。
>>采用适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素
光传感器应用zei高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器(Wing传感器)外,附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可以准确地捕捉光强度分布模式,从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。全部这些元素,均采用了zei新工艺制造的、适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素。
>>采用SLIT光学系统,用单一检出面可连续捕捉zei大达60度宽角度前方散射光
采用了SLIT(Scattered Light Intensity Trace,散射光强度追踪)光学系统。以往的SALD系列或其他公司的制品,可连续检出前方散射光的范围zei大只可到35度左右。SALD-7101采用了基于高度散射光强度追踪技术的SLIT光学系统,打破了一般常识,可用单一检出面连续捕捉zei大达60度宽角度的前方散射光,实现了微粒子领域的高分辨率。
>>能够连续测定反应过程中粒子的粒度大小和分布的变化,时间间隔zei短可以做到1s
市场上其他的产品都需要至少10s以上。
>>适用于超微粒子的湿法测量专用机
是适合于涂料、颜料,食品,饮料,医药品,化妆品,乳剂,精制陶瓷等微粒子、超微粒子测量的湿法专用机。
>>力求光学系统的稳定性
采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统,使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。
>>样品池摘取简单
采用推拉式样品池座,方便样品池的更换和清洗。
>>使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源
光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路,实现激光输出功率的稳定化。
>>配备激光光束安全系统
双重激光保护对策:测量室打开时,快门自动关闭及手动关闭激光光束。