产品描述
| 型号 | zei大称量值 [g] | 可读性 [mg] | 重复性（sd） [mg] | 线性误差 [mg] | 典型稳定时间 [s] | 秤盘尺寸（W×D） [mm] |
| XP26 | 22 | 0.001 | 0.0025 | 0.006 | 3.5 | 40×40 |
| XP26DR | 5.1/22 | 0.002/0.01 | 0.002/0.008 | 0.01 | 3.5/2.5 | 40×40 |
| XP56 | 52 | 0.001 | 0.006 | 0.02 | 3.5 | 40×40 |
| XP56DR | 11/52 | 0.002/0.01 | 0.002/0.014 | 0.03 | 3.5/2.5 | 40×40 |
DR=变量程；sd=标准偏差
采用分离的称量单元和显示控制单元，微量天平避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
天平校验功能（BalanceCheck），微量天平自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保微量天平称量结果始终准确
GWPExcellenceTM一体化安全功能，微量天平确保微量天平始终正确工作
优化天平适应性的称量参数设置，微量天平满足不同称量环境要求
完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计，实现微量天平的快速清洁
丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
