铁合金产品中工业硅的用途很广，既可用于特钢的脱氧剂，也可用于铝合金的添加剂。根据产品用途各异，可以采用不同的分析方法，而通过X荧光能谱法分析工业硅尚未见报导。本文在对分析过程中样品制备﹑采谱条件﹑谱处理方式﹑分析技术等各个环节做了大量试验的基础上，通过X荧光粉末压片方式分析工业硅中Fe﹑Al﹑Ca等元素。结果表明，Thermo Scientific的ARL Quant'XX荧光能谱法具有快速准确高效的特点，完全可以得到满意的分析结果。

ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:

1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；

2、元素分析浓度范围从<1ppm到100%；

3、多元素同时测量时间10-60秒；

4、可选多种进样器；

5、使用CCD相机进行样品成像；

6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；

7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；

8、多功能XRF应用软件；

9、薄膜厚度测量与镀层分析；

10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；

11、多语言支持；

12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；

13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；

14、设计紧凑，可以轻松移动；

15、低噪音、得益于智能温控风扇；

16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；

17、易于安装，更易于维护。

与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X 射线管产生的所有杂散干扰。