晶粒度(grain size)是表示晶粒大小的尺度。常用的表示方法有单位体积的晶粒数目(ZV),单位面积内的晶粒数目(ZS)或晶粒的平均线长度(或直径)。表示晶粒大小的尺度叫晶粒度,常用单位体积(或单位面积)内的晶粒数目或晶粒的平均线长度(或直径)表示。工业生产上采用晶粒度等级来表示晶粒大小。标准晶粒度共分12级,1~4级为粗晶粒,5~8级为细晶粒,9~12级为超细晶粒度。
超高精细显微镜诞生
集观察、拍摄、测量于一体
细微凹凸清晰呈现、直逼 SEM 的观测图像
可轻松拍摄出高质量图像的全新操作系统
VHX高精细度
数码显微系统VHX-7000 系列
超乎想象的便捷操作,挑战光学极限的数码显微系统。
轻松直观的观测
实现了相当于光学显微镜 20 倍以上的景深。镜头、相机、成像软件均由基恩士自行设计,实现了景深与亮度平衡下的观察。可以轻松、直观地进行观测。
简单高效的保存和应用
内置 1TB 的 HDD,可直接保存观察图像。保存的图像可通过 LAN、USB 进行活用。使用市售软件可自动生成固定格式的报告。
各种测量功能集于一身
仅需操作鼠标即能进行平面测量、3D 测量。此外,粗糙度测量、清洁度测量、结晶粒度测量等也只需这一台设备就可以完成。
采用由高分辨率 HR 镜头、4K CMOS 以及照明构成的专用设计,实现了全新的观测方式。
采用 4K CMOS 和新开发的光学系统,实现了更大景深与高分辨率的兼顾。
具备明场、暗场、偏光、微分干涉等丰富的观测方法,自动对应不同的目标物。
将目标物置于载物台上即可全电动进行定位、调焦、倍率转换等操作。
初次使用的人也能轻松地实现目标位置观察。