分析型SSD硅漂移电制冷探测器
50mm²晶体面积,30mm²有效面积
高分子超薄窗设计,无需液氮冷却,仅消耗电能
能谱仪作为电镜微区成分分析的重要工具,一直是扫描及透射电镜最常用的附件,可以用在高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定。能谱仪可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析,如金属化膜表面镀层的检测;金银饰品、宝石首饰的鉴别,考古和文物鉴定,以及刑侦鉴定等领域;能谱仪进行材料表面微区成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
技术指标:
能量分辨率:Mn_Ka处优于 129eV,保证符合 ISO 15632:2012 标准
探测器:30mm²有效面积,分析型 SDD 硅漂移电制冷探测器,高分子超薄窗设计,无需液氮冷却,仅消耗电能。
最大图像/面扫描分辨率:4096*4096
元素分析范围:B5~Cf98
产品特性:
1. 具备零峰修正功能,可以快速稳定谱峰,开机后无需重新修正峰位;
2. 具备元素谱图 Live 功能,移动样品时,元素谱图实时刷新显示,无需在电镜和能谱软件间切换;在谱图采集时实时显示 MinQuant 的定量分析结果;
3. 内置 Tru-Q 引擎,确保定量分析的准确性;FLS(高帽滤波法)自动扣除背底,确定谱峰的位置及峰型;Qcal 基于探头类型修正谱峰峰型,PPC 准确预测高计数率下的和峰并进行修正。