HORIZON 全反射X荧光光谱仪 应用于染料分析领域

能量发散X光荧光分析仪（简称EDXRF：
Energy-Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometry），EDXRF的仪器构造，如同WDXRF，也是由相同约三部分组成，即激发源、光谱仪和侦测系统。在Li-Si侦测器最前端有一7至12微米的铍窗口和200埃厚的金层，其目的主要是保护窗口内的Si（Li）侦测器不受外物的污染，以确保侦测器的可靠度和使用性；除此之外，也可挡住外来电子撞击Si（Li）侦测器而产生噪声，因此其侦测结果的准确性也可提高。但铍窗口也有缺点，即不能让波长大于6埃的光通过，是故连带的也就限制所能分析的最轻元素，因此所能分析的最轻元素的原子序为大于6，故半导体产业及生物科技产业感兴趣的碳、氧、氮等元素，也可以用XRF来分析。

仪器简介

TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。

HORIZON 配备了12位样品台自动测量，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。广泛应用在环境分析、制药分析、法医学、化学纯度分析、油品分析、染料分析、半导体材料及核材料工业分析领域。

主要特点
■ 单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；
■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；
■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；
■ 不受样品的类型和不同应用需求影响；
■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；
■ 优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；
■ 出色的动态线性范围；
■ 无需任何化学前处理，无记忆效应；
■ 非破坏性分析，运行成本低廉。