产品描述
太赫兹在新材料的创新与发现上也起到非常重要的作用。本项目的产品可以应用到半导体材料和半导体器件的测试分析中。采用太赫兹光谱仪测试半导体材料的吸收谱，编制测试软件，建立常用半导体材料太赫兹谱数据库，分析半导体材料结构、掺杂含量等物质参数；获取半导体器件的温度特性、光电特性和电光特性，电场、光场和太赫兹源激励下半导体器件中载流子的变化规律，分析半导体器件的动力学过程。我们可以利用这种手段获得许多材料的特性，从而促进我们发现和产生新材料，助力我国快速占领新型材料开发的制高点。
主要特点：
基于有机晶体产生、探测太赫兹
频谱高达20THz
可选项：THz成像扫描范围50x50 m m2 或100x100 m m2
透射式、反射式可选；无需准直光路
瑞士Rainbow Photonics 公司推出TeraSys-AiO 时域太赫兹光谱仪产品，为实验室太赫兹光谱和成像研究提供了灵活的解决方案。 TeraSys-AiO时域太赫兹光谱仪在无需光路准直的前提下透射和反射式检测方面提供了zui大的灵活性。TeraSys-AiO基于有机晶体产生太赫兹，突破传统导天线产生太赫兹的方式。TeraSys-AiO时域太赫兹光谱仪包括所有的光学、机械、电学部分（延迟线、太赫兹发生器、太赫兹探测器、光学、电学元件用于太赫兹产生和探测）、湿度传感器、净化腔及的软件和电脑。
宽波段（0.3-14 THz）时域太赫兹光谱仪系统
太赫兹、太赫兹时域光谱仪、太赫兹透射式光谱仪、太赫兹反射式光谱仪、TeraSys-AiO，时域太赫兹光谱仪
主要应用：
物质的检测光谱与分析
指标参数 | TeraSys-AiO | |
THz generator/detector | DSTMS | |
Spectral range | 0.3-14 THz (in transimission) 0.3-8 THz (in reflection) | |
Best phase matchable wavelength | 1300-1600 nm | |
Options: ² THz imaging with a scanning range of 50x50 m m2 for transmission or reflection operation | ||
TeraSys-AiO Transmission Reflection | ||
Spectral range Dynamic range Signal to Niose(@4 THz) Scan range Frequency resolution Dimensions (including the pump source) | 0.3-14 THz >70 dB >70 dB Up to 60 ps <100 GHz 1375px X 1125px X28 cm | 0.3-8 THz >40 dB >35 dB Up to 60 ps <100 GHz 1375px X 1125px X28 cm |
Pump Source (high power ultrafast Erbium fiber laser) | ||
Pulse length <20 fs Total average power >200 Mw Peak power >120 Kw Central wavelength 1565 nm Repetition rate 80 MHz | ||
