数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。

Delta-X衍射仪能满足科学研究所和技术开发中心 不同材料体系的全方位测试需求。

Delta-X 衍射仪的主要特点和优势

n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析

n 客户可以自行设定测量的自动化程度

n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描

n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mapping

n 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试

n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直

n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件

n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量

n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量

n 多方面广泛的测试技术和测量参数

n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。

Delta-X衍射仪的特点和优势

自动化控制的光学系统:

Delta-X衍射仪的入射束包括多种标准的光学配置模式，以便使光学配置具有充分的灵活性，且易于操作。可以依据测量样品的材料类型，选择参考晶体。

n 标准模式：用于所有系统，平行束多层膜高反镜

n 其他四种光学系统可以选择和安装：

n Bragg-Brentano镜 (Johannson光学元件)

n Bragg-Brentano镜 (Johannson光学元件)和一个参考晶体(二次反射)

n 两个独立的参考晶体(二次反射)：参考晶体的材料类型和分辨率有多种设计供选择，以便提供与测量zui匹配的分辨率。

n 两个参考晶体，以Bartels模式安装

n 参考晶体和高反镜均可自动化切换

n 不需要将参考晶体和高反镜手动移出衍射仪，保证光学元件不被损坏、不偏离准直状态。

n 衍射仪的初始准直易于操作，安全可靠，无需在设备内开启X射线操作。