S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜也可用于XeF2、H2O等用于增强刻蚀,或其它定制气体
 S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜也可用于XeF2、H2O等用于增强刻蚀,或其它定制气体
价格:7000000

S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜也可用于XeF2、H2O等用于增强刻蚀,或其它定制气体

产品属性

  • 品牌泰思肯
  • 产地捷克
  • 型号 S8000G FIB-SEM
  • 关注度993
  • 信息完整度
  • 供应商性质生产商
  • 产地类别进口
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产品描述

S8000可配置最新的多种探测器S8000G是TESCAN新一代FIB-SEM的首个成员,集成了BrightBeam™ SEM镜筒、Orage™ GaFIB镜筒、OptiGIS气体注入系统等多项创新设计,在高分辨能力、原位应用扩展能力和分析扩展能力方面达到了业内顶级水平,此外新一代操作流程和软件也给使用者带来更舒适、高效的体验。


新一代OptiGIS™气体注入系统

S8000可配置最新的多种探测器,包括透镜内Axial detector 以及 Multidetector,可选择不同角度和不同能量来收集信号,体现更多种类的信息,同时获得更好的表面灵敏度和对比度。S8000G有两种气体注入系统可供选择,标准的5针-GIS和新一代OptiGIS单针-GIS,单针的OptiGIS支持通过更换气罐来更换化学气体,避免了以往多针气体注入系统样品仓内占用空间大的问题。

两种气体注入系统均可以选择多种沉积气体,其中W、Pt、C等用于导电材料沉积,SiOx用于绝缘材料沉积,XeF2、H2O等用于增强刻蚀,或其它定制气体。



新一代Essence™操作软件,更简单、高效的操作平台

S8000可配置最新的多种探测器新操作软件极大简化了用户界面,能快速访问各主要功能,减少了繁琐的下单菜单操作,并优化了操作流程向导,易于学习,兼容多用户需求,可根据工作需要定制操作界面。

新颖的样品舱内3D空间位置和移动轨迹模拟功能,可避免误操作,造成碰撞。


样品舱内的3D空间位置和移动轨迹模拟


S8000G是TESCAN最新S8000系列扫描电镜的第一个新成员,是一款超高分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以极佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。

北京亚科晨旭科技有限公司

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