IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新 M6应用于地质矿物学
IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新 M6应用于地质矿物学
价格:面议

IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新 M6应用于地质矿物学

产品属性

  • 品牌IONTOF
  • 产地德国
  • 型号TOF-SIMS M6 Hybrid SIMS
  • 关注度383
  • 信息完整度
  • 供应商性质总代理
  • 产地类别进口
  • 仪器种类飞行时间
关闭
用户
  • 北京中科院化学所

产品描述

Nanoprobe 50 是新一代 M6 的铋离子团簇离子源LMIG)。


       该源可提供高达 40 nA 的 DC 电流和高达 40 pA 的脉冲一次离子电流(最大脉冲一次离子电流是 TOF.SIMS 5 的 倍 ),保证 50 nm 的最佳横向分辨率和提高两倍的数据传输率。


  其新的双极集束系统可以以高达 50 kHz 的重复频率运行,从而允许极高的数据速率和改善的检测极限,使质谱性能和操作便捷性都更上一层楼。


  其快速成像模式下的性能优于 90 nm @ 350 pA,束流密度比上一代的 TOF.SIMS 5 提高接近 倍。


  Nanoprobe 50 是用于高横向分辨率显微分析和成像以及高质量分辨率表面质谱分析和深度剖析的理想一次离子源。


Hybrid SIMS

SIMS能够从无机和有机样品上的亚微米区域获取化学成分信息。从事生命科学应用研究的人员对于这种功能尤其感兴趣。近年来,在亚细胞水平上成像和准确识别分子的愿景一直在推动仪器及其应用的发展。

虽然新的离子源扩展了SIMS仪器在生物学方面的应用,但深入研究这类材料需要SIMS分析仪器具有更高质量分辨率、更高质量准确度和MS / MS联用功能。为此,IONTOF结合现有的TOF-SIMSQ ExactiveTM,推出了具有最高质量分辨率(> 240,000)、最高质量精度(<1 ppm)和高分辨率的团簇源SIMS成像的Hybrid SIMS。新一代的Hybrid SIMS 仪器型号为 M6 Hybrid SIMS。

Hybrid SIMSTOF分析仪的快速成像功能与Q ExactiveTM独特的超精准的鉴定性能相结合,为有机样品的分析和检测提供了更高水平的SIMS信息。该新扩展升级还提供高端MS / MS联用功能对分子信息进行进一步确认。为高分辨率的分子信息SIMS应用树立了一个新高度。



Hybrid SIMS仪器

1.使用ToFOrbitrapTM双分析器配置

2.超过静态SIMS极限的气体团簇高分辨成像和质谱测定

3.脉冲操作模式和直流操作模式



Thermo ScientificTM

Q ExactiveTM HF

1.质量分辨率240,000 @ m / z 200

2.扫描频率高达18 Hz

3.质量精度<1 ppm

4.具有精确的预选择、最佳质量分辨率的碎片全谱和质量准确度的MS / MS







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